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梅特勒托利多[Mettler]


HR83/HR83P* 卤素水分测定仪

提供符合SOP 和法规要求所需的多种质量管理工具,例如:三级密码保护、样品和用户标识、完整可追溯的仪器校验等。

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HG63/HG63P* 卤素水分测定仪

采用环行卤素灯及镀金辐射体,快速、均匀的加热样品。背亮式液晶显示屏以及清晰的图形化用户指导确保无差错和相匹配的水分测定。

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HB43-S 卤素水分测定仪

采用环行卤素灯及镀金辐射体,快速、均匀的加热样品。预存100种不同样品水分测定数据库,有效缩短样品测定方法的开发时间。2个测定方法的调用按键,用户操作提示和图标确保无差错的简便操作。坚固的设计、平整的表面、易于使用的加样腔,使得样品散落后仪器的清洁异常简便。

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MJ33 快速水分测定仪

采用环行卤素灯及镀金辐射体,快速、均匀的加热样品。预存100 种不同样品水分测定数据库,有效缩短样品测定方法的开发时间。2 个测定方法的调用按键,用户操作提示和图标确保无差错的简便操作。

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HS153卤素水分测定仪

HS153水分测定仪关键产品特性                       技术参数 水分含量                         可读性0.01%   重复性(sd)(2g样品) 0.05%   重复性(sd)(10g样品)  显示模式                              %MC,%DC,%ATRODC,   g,g/kg MC,g/kgDC   加热单元

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超越系列XP天平 XP2U/XP6

产品特性·采用高精度高分辨率传感器·内置RS232通讯接口和第二接口选件插槽·符合GxP规范的称量结果输出·丰富内置称量应用程序:基称称量、统计功能、密度测定、差重称量等·e-LoadII软件,实现天平软件的即时更新 超越系列XP天平·TFT彩色触摸屏(SmartScreen)·水平控制系统(LevelControl)·称量值功能(MinWeigh) ·采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电

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超越系列XS天平 XS3DU

产品特性·采用高精度高分辨率传感器·内置RS232通讯接口和第二接口选件插槽·符合GxP规范的称量结果输出·丰富内置称量应用程序:基称称量、统计功能、密度测定、差重称量等·e-LoadII软件,实现天平软件的即时更新 超越系列XS天平·触摸屏(TouchScreen) ·采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响·优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求·丰

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XP分析天平

产品特性·采用高精度高分辨率传感器·内置RS232通讯接口和第二接口选件插槽·符合GxP规范的称量结果输出·丰富内置称量应用程序:基称称量、统计功能、密度测定、差重称量等·e-LoadII软件,实现天平软件的即时更新 超越系列XS天平·触摸屏(TouchScreen) ·采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量需求·天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校正

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XS分析天平

产品特性·采用高精度高分辨率传感器·内置RS232通讯接口和第二接口选件插槽·符合GxP规范的称量结果输出·丰富内置称量应用程序:基称称量、统计功能、密度测定、差重称量等·e-LoadII软件,实现天平软件的即时更新 超越系列XS天平·触摸屏(TouchScreen) ·采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量需求·优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求·完全可拆卸,清洗的

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AB分析天平

产品特性·天平机架塑料保护罩(In-usecover)·内置RS232通讯接口·内置称量应用程序:基础称量、百分比称量、计件称量和动态称量 经典系列AB天平·背亮式液晶显示屏(可读性0.01mg型号除外)·全金属防化防撞击机架 ·采用单模块传感器(MonoBloc)(可读性0.01mg型号除外),满足用户高精度的称量需求·背亮式液晶显示屏(可读性0.01mg型号除外),方便用户在不同称量环境下读取

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